您當前位置是:�(wǎng)站首� > �(chǎn)品代�

�(chǎn)品介�
相變溫度分析儀 PCA 是根�(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)(反射光功率)有較大差異的特性,在程序控溫下,使用一束恒定功率的激光照射樣品表面,記錄反射光功率變化,形成反射光功率與溫度變化曲線,從而確定相變溫度�
�(yīng)用功�
各種材料相變溫度(融化、軟化、晶化等)的實時測定�
新型材料(相變材料、相變儲能材料)的穩(wěn)定性測試及性能�(yōu)化;
新型相變機理(晶化溫度的尺寸效應(yīng)、材料的�(jié)晶動力學(xué)過程等)研究�
…�
�(yīng)用材�
NiAl �(fù)合薄� | GeTe 薄膜 | Ni-Mn-Ga 薄膜 | SiC 薄膜 |
Al2O3薄膜 | TiN 薄膜 | PZT 鐵電材料 | � Ti � ZnSb 薄膜 |
金屬 Co 薄膜 | 形變記憶合金材料 | 二氧化釩薄膜 | ZrO2 薄膜 |
GST 相變存儲薄膜 | MgO薄膜 | 顯示屏玻� | …� |
�(chǎn)品特�
采用具有專利技�(shù)的光�(xué)系統(tǒng)檢測原理,配有高性能的加熱及控制系統(tǒng)和人性化的送樣組件,儀器性能�(yōu)越;
不僅可以檢測多種塊體材料,還可以檢測各種薄膜樣品,為客戶對材料的研究提供更大的便利和支持�
無損檢測,不破壞樣品,節(jié)約成本;
…�