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�(chǎn)品介�
熱膨脹系�(shù)分析儀TEA 采用�(chuàng)新的光干涉原理專利技�(shù),可無損檢測(cè)塊體和薄膜樣品的熱膨脹系�(shù),廣泛應(yīng)用于輔助各種新材料,尤其是薄膜材料的研究與開�(fā)以及�(zhì)量檢�(yàn)�
�(chǎn)品特�(diǎn)
自主知識(shí)�(chǎn)�(quán)�(chǎn)品,擁有多項(xiàng)技�(shù)專利�
基于光干涉原理的�(chuàng)新技�(shù)�
采用 PID �(diào)節(jié)與模糊控制相�(jié)合形式控制的紅外加熱方式,大溫區(qū)連續(xù)、高速溫度跟隨、既定程序升溫及保持控制�
非接觸式無損檢測(cè),測(cè)試精度高�
具備外接抽真空設(shè)備、循�(huán)水冷�(shè)備及載氣或制冷能力;
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