您當(dāng)前位置是:�(wǎng)站首�(yè) > �(chǎn)品代�

�(chǎn)品介�
薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系�(tǒng) TCT 是采� 3ω�(cè)試方法,利用�/納米薄膜材料�(dǎo)熱引起加熱器電信�(hào)的變化來(lái)檢測(cè)其熱�(dǎo)率。主要應(yīng)用范圍為�/納米薄膜材料的熱�(dǎo)率測(cè)量,可廣泛應(yīng)用于輔助各種功能薄膜材料的研究與�(kāi)�(fā),其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存�(chǔ)與光電材料等�
�(chǎn)品特�(diǎn)
采用3ω�(cè)試方法,利用�/納米薄膜材料�(dǎo)熱引起加熱器電信�(hào)的變化來(lái)檢測(cè)其熱�(dǎo)率;
不直接測(cè)量溫度變化,而是通過(guò)�(cè)量材料在�(dǎo)熱過(guò)程中溫度的變化轉(zhuǎn)換為電信�(hào)的變化,�(lái)�(shí)�(xiàn)�/納米薄膜材料的熱�(dǎo)率測(cè)試;
采用交流電加熱方式,同時(shí)選擇并優(yōu)化設(shè)�(jì)加熱電極的形狀與尺寸,可確保加熱均勻性及�(cè)試應(yīng)用的廣泛性;
待測(cè)薄膜樣品材料尺寸極小,所以能有效減小黑體輻射引起的測(cè)量誤差;
高精度數(shù)字源表并�(jié)合鎖相放大技�(shù),保證測(cè)量結(jié)果的�(zhǔn)確性;
�(yōu)化的加熱電極的形狀與尺寸設(shè)�(jì),可保證加熱均勻性及�(cè)試應(yīng)用的�(wěn)定�